产品详情
  • 产品名称:TT260测厚仪测头

  • 产品型号:F1 N1 F400
  • 产品厂商:北京时代
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简单介绍:
TT260测厚仪测头F1 N1 F400:主要配在北京时代TT260测厚上使用,F400测头主要用于一些小直径产品的涂层测厚,F1用于磁性基体上的本导体层的测厚,N1用于非磁性金属上的非导电层测厚。
详情介绍:
TT260测厚仪测头F1  N1  F400

N1探头是涡流法测量的通用标准探头,测量范围01250um,基本覆盖大部分涂层厚度范围,也是TT260的标配探头。

工作原理:电涡流 | 分辨力:0.1um

测量范围:01250 | 铜上镀铬040um

示值误差:

一点校准:±[3%H+1]um

两点校准:±[(13)%H+1]um

测量条件:

最小曲率半径:凸3mm

基体最小面积的直径:Ф5mm

最小临界厚度:0.3mm

探头尺寸:Ф15X73mm




F1探头是磁性法测量的通用标准探头,测量范围01250um,基本覆盖大部分涂层厚度范围,也是TT260的标配探头。

工作原理:磁感应 | 分辨力:0.1um

测量范围:01250um

示值误差:

一点校准:±[3%H+1]um

两点校准:±[(13)%H+1]um

测量条件:

最小曲率半径:凸1.5mm

基体最小面积的直径:Ф7mm

最小临界厚度:0.5mm

探头尺寸:Ф12X47mm


 

 

涂层测厚仪F400探头

  • 工作原理:磁感应 | 分辨力:0.1um
  • 测量范围:0-400um
  • 示值误差:
    1. 一点校准:±[3%H+1]um
    2. 两点校准:±[(1~3)%H+0.7]um
  • 测量条件:
    1. 最小曲率半径:凸1mm
    2. 基体最小面积的直径:Ф3mm
    3. 最小临界厚度:0.2mm
  • 探头尺寸:Ф12X55mm
 
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